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XTU-4C專業性能型膜厚儀 下照式微聚焦多準型，搭載*EFP算法軟件和微光聚集技術，配合切換準直器在檢測各微小及凹凸面樣品時檢出限更低，儀器壽命更長，性能更穩定。X射線鍍層厚度分析儀

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